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产品详情
简单介绍:
Loop 测试 自动搜寻 IC 编号功能 开机自我侦测诊断功能 过载保护功能 可量测之 IC 种类超过 1800 种
详情介绍:
GUT-6000A数位IC测试器台湾固纬 GWinstek
特性:
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
大可测 Pin 数 : 28 Pin
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
大可测 Pin 数 : 28 Pin
GUT-6000A数位IC测试器详细介绍
规 格 | |
测试范围 |
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
55 及 75 系列 TTL | |
量测种类 |
约 1800 种 |
测试电压 |
5V DC |
测试时间 |
高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC |
使用电源 |
交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
附件 |
电源线 x 1, 操作手册 x 1 |
尺寸及重量 |
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm, 约 1.5 公斤 |
固纬IC测试仪选型表
机 种 |
主要功能或用途 |
GUT - 6000A |
数位IC测试器 |
GUT - 6600 |
掌上型数位IC测试器 |
GUT - 6001 |
类比IC测试器 |
特性:
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
大可测 Pin 数 : 28 Pin
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
大可测 Pin 数 : 28 Pin
GUT-6000A数位IC测试器详细介绍
规 格 | |
测试范围 |
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
55 及 75 系列 TTL | |
量测种类 |
约 1800 种 |
测试电压 |
5V DC |
测试时间 |
高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC |
使用电源 |
交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
附件 |
电源线 x 1, 操作手册 x 1 |
尺寸及重量 |
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm, 约 1.5 公斤 |
固纬IC测试仪选型表
机 种 |
主要功能或用途 |
GUT - 6000A |
数位IC测试器 |
GUT - 6600 |
掌上型数位IC测试器 |
GUT - 6001 |
类比IC测试器 |