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产品展示
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用来测定多层镍镀层系统中各个单个的镀层厚度以及各镀层之间的电化学电位差。在电镀工业中，对多层镍的测量变得越来越重要了，例如双层镍的测量已成为一种标准的操作
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MMS系统可以配置多种Fischer智慧型探头，这样，使用者就可以下列测试方法中的一种或其组合实现无损测量：磁感应法，涡流法，BETA散射法，霍耳效应或电阻法
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新型号的FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-µ是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统
